Spektrale Strahlungsleistung von Ar- und Xe-Emissionslinien, gemessen mit einem CAS 140CT-HR für den Spektralbereich zwischen 900 und 980 nm und bei einer spektralen Auflösung von 0,2 nm.

Spektrale Strahlungsleistung von Ar- und Xe-Emissionslinien, gemessen mit einem CAS 140CT-HR für den Spektralbereich zwischen 900 und 980 nm und bei einer spektralen Auflösung von 0,2 nm. (Bild: Instrument Systems)

Basierend auf den bewährten Spektralradiometern CAS 140CT bietet Instrument Systems nun auch Ausführungen für besonders schmalbandige Emissionsquellen wie beispielsweise Laserdioden an. Diese hochauflösenden Spektralradiometer vereinen die Anforderungen hoher spektraler Auflösung und kurzer Messzeiten für anspruchsvolle Charakterisierungen in der Produktion und im Labor.

Für 80 nm breite Wellenlängenbereiche erzielen die neuen Modelle eine spektrale Auflösung von bis zu 0,2 nm. Analog werden für Spektralbereiche von 120 und 160 nm spektrale Auflösungen von 0,3 und 0,4 nm erreicht. Die Verwendung eines CCD-Arrays als Detektor ermöglicht, dabei das Spektrum der Emissionsquelle in einem einzigen Belichtungsvorgang zu erfassen. Auf diese Weise sind Integrationszeiten von 10 ms möglich. Dies ist unter anderem bei der Erfassung kurzer Lichtpulse in der Größenordnung von Millisekunden von Vorteil.

Das hochauflösende CAS 140CT-HR ist für Wellenlängen von 800 bis 1000 nm und Messbereiche mit 80, 120 und 160 nm Breite erhältlich. Weitere Varianten im VIS-Spektralbereich sind auf Anfrage verfügbar. Die Anwender können auf die gewohnte Kalibrierung mit Rückführbarkeit auf die PTB und eine Vielzahl an Zubehör, wie Einkoppeloptiken und Ulbricht-Kugeln, zurückgreifen. Die Vertriebsmitarbeiter von Instrument Systems beraten gerne zu den vielfältigen Einsatzmöglichkeiten der neuen hochauflösenden CAS 140CT-HR Modelle.

(jwa)

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