Die Halbleiter-Datenanalyse-Technologie von Qualtera soll in Kombination mit den Tools von Synopsys Testabläufe beschleunigen und die Ausbeute erhöhen über den gesamten Entwicklungs- und Herstellungslebenszyklus eines Schaltkreises. (Bild: Qualtera)
In Kombination mit der designorientierten Yieldmanagement-Lösung Yield Explorer und dem Testautomatisierungstool Test-Max von Synopsys bildet die Analyse-Technologie von Qualtera die Grundlage für die Verbesserung von Prozessen und der entsprechenden Messtechnik zur Steuerung von Weiterentwicklungen über den gesamten Entwicklungs- und Herstellungslebenzyklus eines Produkts.
Damit steht auch eine Optimierungslösung „Post Silicon“, also nach der eigentlichen Halbleiterherstellung, zur Verfügung, die für eine Maximierung der Effizienz der Prozessabläufe vom Design bis hin zur Auslieferung des Schaltkreises sorgen soll. In einem frühen Stadium des Bauelementelebenszyklus ermöglicht die Halbleiter-Datenanalyse Verbesserungen der Parameter für die Entwurfsmodellierung, die in nachfolgenden Entwurfsiterationen oder in zukünftigen Entwürfen im selben Technologieknoten Verwendung finden können.
Später im Lebenszyklus kann die Analyse, die Designinformationen mit detaillierten Testergebnisdaten korreliert, zur Verbesserung der Produktausbeute während der Herstellung dienen. Die Yield-Explorer-Lösung ermöglicht dabei die Identifizierung systematischer Begrenzer der Ausbeute aufgrund von Wechselwirkungen zwischen dem Fertigungsprozess und physikalischen Konstruktionsmerkmalen des Schaltkreises. Die Kombination der Technologien von Synopsys und Qualtera beschleunigt die Analyse und ermöglicht es, noch größere Datenmengen für eine noch höhere Genauigkeit auszuwerten.
Auch im Produktionstestbereich kann eine derartike Analytik zu erheblichen Verbesserungen führen. Die intelligente Analyse von Fertigungs- und Testdaten kann spezifische Aktionen zur Steigerung der Effizienz des Testprozesses vorantreiben. Die Kombination der Tools beider Untenehmen hilft Anwendern durch eine noch genauere Fehlersuche und ermöglicht die Reduzierung von Testkosten bei gleichzeitig hoher Qualität.
(na)
