Termin: 22.10.2013 22:00 Uhr - 23.10.2013 22:00 Uhr
Stadt: Fürstenfeld

Die über 700 erwarteten Teilnehmer können aus über 100 Technologie- und Anwendervorträgen wählen, unter anderem zu den Themen Prüfstandsautomatisierung, Mess- und Prüftechnik, Embedded-Systemvalidierung und -verifizierung sowie Fertigungs- und Baugruppentest. Außerdem werden dieses Jahr zum ersten Mal zahlreiche Seminare angeboten, in denen erfahrene NI-Mitarbeiter den Teilnehmern erste Schritte im Umgang mit NI-Produkten vermitteln. Darauf aufbauend können die Teilnehmer in verschiedenen Workshops Beispielanwendungen selbst umsetzen.

Zudem haben die Kongressteilnehmer am 24. Oktober von 16 bis 17 Uhr die Gelegenheit, kostenfrei an der Zertifizierung ‚Certified Labview Associate Developer‘ (CLAD) teilzunehmen, ein industrieweit anerkannter Qualifikationsnachweis.

Wie in den vorherigen Jahren werden auch für den VIP-Kongress 2013 die eingereichten Anwenderberichte in einem begleitenden Tagungsband mit etwa 100 Beiträgen veröffentlicht.