Termin: 26.11.2020 09:30 Uhr - 27.11.2020 16:20 Uhr
Stadt: Online-Event
Veranstaltungsort: https://www.izm.fraunhofer.de/de/news_events/schulungen-und-workshops/ws_12.html
Veranstaltungsadresse: Fraunhofer IZM

Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmern die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt.

Zur Absicherung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in allen Entwicklungsphasen liegt der Fokus auf den Themenfeldern:

Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
Methoden zur Systembewertung
Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
Empirische und physikalische Alterungsmodelle
Simulationssystematik
Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
Analytische Messmethoden