Termin: 16.11.2016 09:00 Uhr - 17.11.2016 16:00 Uhr
Stadt: Altdorf bei Nürnberg
Veranstaltungsort: Fritz-Bauer-Str. 13, 90518 Altdorf b. Nürnberg
Veranstaltungsadresse: Technische Akademie Wuppertal (TAW)

Der Einsatz neuer Technologien wie SMD, COB, BGA usw. sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozess-Sicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und Einführung neuer Testverfahren.
In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und trotzdem die Qualität steigern will. Kein Testverfahren alleine bringt ausreichende Fehlerabdeckung. Um aber eine optimale Teststrategie umsetzen zu können, müssen bereits während der Entwicklung die dafür not­wendigen Testbarkeits­richtlinien integriert werden.
Jedes Testverfahren benötigt in der Regel auch individuelle Design for Test-Maßnahmen (DFT). Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitäts­steigerung. Die optimale Test­strategie zu ermitteln, ist Team­arbeit, d.h. Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitäts­sicherung sind involviert.
Ziel des Seminars ist es, Ihnen das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit deren Vor- und Nach­teilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Inte­gra­tion der Testverfahren im Unternehmens­umfeld zu vermitteln.