Diese Lösung ermöglicht die Entwicklung und das Debugging von Testprogrammen, DIBs und Nadelkarten ohne Beeinträchtigung der laufenden Produktion. Die Kompati­bilität zwischen den Systemen gestattet den Transfer von Testprogrammen in die Produktion mit geringem Zeitaufwand und verkürzt damit die beim Hochfahren der Produktion von neuen Bausteinen.


Mit einer Performance von 100 MHz bietet die FLASH 750 die Performance-Verifika­tion für Speicher, die per Multichip mit anderen Dies kombiniert werden, während die von dem J750-Testsystem übernommenen Logik-Testfähigkeiten den Single-Pass-Test von ICs mit Embedded Memory erlauben. Die Fähigkeit zum Testen von Masken-ROMs mit 512 MByte und Flash-ICs mit bis zu 4 GByte stellt sicher, dass die Testfähigkeiten mit der Komplexität der Bausteine mitwachsen. Die Fähigkeit, die gesamte einem Baustein zur Verfügung gestellte Ladung messen zu können, erlaubt Herstellern die Differenzierung ihrer Produkte für den Einsatz in batteriegespeisten Applikationen.


Die FLASH 750 Memory Testplattform ist mit der IG-XL Testsoftware ausgestattet. Die IG-XL Testsoftware ist eine Testentwicklungssuite der Halbleiter ATE-Branche, die die Leistung und Performance der PC-Technologie und des Betriebssystems Windows NT mit der Vertrautheit von Standard Windows Produktivitätstools kombiniert.