Baugruppentester

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Baugruppentester".
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Testgeräte + Prüfplätze-In-line-Lotdurchstiegskontrolle an THT-/THR-Steckverbindungen

Mehr als die Spitze des Eisberges

22.02.2015- FachartikelMit dem Through-Hole-Reflow-Lötverfahren (THR) lassen sich innerhalb des SMT-Prozesses Bauelemente in Durchstecktechnologie verarbeiten. Doch wie sind diese Lötverbindungen sicher zu prüfen? Welche Technologie ist nötig, um etwa den Lotdurchstieg zu bewerten? Der folgende Beitrag beantwortet diese Fragen und geht dabei speziell auf das Inline-3D-Röntgensystem X-Line-3D von Göpel Electronic ein. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Ingun öffnet Füllhorn für eine Reihe von Prüfadaptern

Prozesssicheres Prüfen

30.01.2015- FachartikelVon manuellen, pneumatischen und vakuumbetriebenen Prüfadaptern bis hin zu Sonderadaptionen reicht das Produktportfolio, das Ingun für alle gängigen Testsysteme entwickelt und produziert. Mit den manuellen Prüfadaptern MA 60, MA 350/F und MA 360/F, wie auch der MA 32xx-Serie ergänzt der Hersteller nun sein Angebotsspektrum. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Durchdachte Flying-Probe-Tester ermöglichen flotte Tests mit klaren Signalen

Schlaues Köpfchen

29.01.2015- FachartikelDie aktuellen Board- und Flying Probe-Tester der Serie 2 haben es in sich: Kernstück der neuen Technologie ist das neue Flying-Tester-Konzept, das darin besteht, die gesamte Treiber- und Messelektronik als Testkopf direkt an der Nadel zu vereinen. Damit ist die Distanz zwischen Nadel und Messinstrument nahezu Null. Das Resultat sind noch schnellere Tests und absolut klare Signale und präziseste Messungen. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Zuverlässiger Test von Flachbaugruppen

Auch Stecker brauchen Prüfung

04.12.2014- FachartikelBei modernen Flachbaugruppen sind die Bauteilstecker oft vertikal angeordnet; sind die Boards auch noch nicht rechteckig, kommt eine weitere Erschwernis des Testvorgangs hinzu. Da sind flexible Testsysteme mit allerlei Adaptern notwendig. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze-Gerd von Garrel gestorben

LXinstruments integriert Stantronic Instruments

02.12.2014- NewsDurch den überraschenden Tod des Gründers und Geschäftsführers von Stantronic Instruments, Gerd von Garrel, wurden schnelle Entscheidungen zur möglichst reibungslosen Weiterführung des Unternehmens nötig: Ab sofort ist Stantronic Instruments neues Mitglied der LXinstruments-Familie. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Viscom/Sincotron Finland

Vertriebspartnerschaft für die Nordic und Baltikum

02.12.2014- NewsViscom strebt nach Norden und hat sich dafür Sincotron Finland als Vertriebspartner geholt, der ab sofort den Vertrieb von Viscoms Inspektionssystemen in Finnland, Schweden, Norwegen sowie Estland, Lettland und Litauen übernehmen wird. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-AOI- und AXI-Equipment in DACH-Region

Hilpert Electronics übernimmt Vertretung für Vitrox

10.11.2014- NewsHilpert Electronics hat mit dem malaysischen AOI- und AXI-Hersteller Vitrox eine Exklusivvertretung für die deutschsprachige Region vereinbart. mehr...

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Baugruppenfertigung-Kundenanforderungen ins rechte Licht gerückt

Sehen und gesehen werden

05.11.2014- FachartikelHauptscheinwerfer, Nebelscheinwerfer, Tagfahrlicht – das Ganze in LED und in Xenon: Verbesserte Lichtqualität erleichtert beim nächtlichen Autofahren das Sehen und Gesehen werden. Zudem schafft eine an spezifische Fahrsituationen angepasste Lichtverteilung zusätzliche Sicherheit. Doch um dies realisieren zu können, ist eine moderne Fertigung mit präziser Prüftechnik unabdingbar. mehr...

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Baugruppenfertigung-Effiziente optische Inspektion ab Losgröße 1

Augmented Reality Inspection

05.11.2014- FachartikelDer Einsatz automatischer Inspektionssysteme ist von der wirtschaftlichen Überlegung abhängig, ob die Zeitersparnis durch die Automatik der Inspektion im sinnvollen Verhältnis zum Aufwand für die dafür notwendige Programmierung steht. Sichtkontrollen wie Erstmuster- oder Kleinserienprüfungen erfüllen diese Voraussetzung oft nicht. Hier sind smarte Konzepte wie die Augmented Reality Inspection (ARI) gefragt, die den Bediener mit seiner Erfahrung deutlich stärker einbinden als bisher – ganz im Sinne von Industrie 4.0. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Boundary-Scan-Test von DDR-Speicher

Eine Fülle von Möglichkeiten

04.11.2014- FachartikelEs wird immer schwieriger, Systeme so zu gestalten, um die mit schnellen BGAs dicht bestückten Multilayer-Leiterplatten in der Produktion gut zu testen. Besondere Schwierigkeiten machen dabei DDR-Speicher, speziell DDR3 und LPDDR3. Debugging und Test auf einer Leiterplatte im eingebauten Zustand lässt sich mittels Boundary-Scan durchführen. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Spulen ohne Wickelkörper

Reed-Relays in Soft-Center-Technologie

03.11.2014- ProduktberichtPickering Electronics stellt auf der electronica 2014 seine Reed-Relais aus. Die Spulen haben keinen Wickelkörper, was das Wickelfenster vergrößert. Das hat zur Folge, dass nun ein höherer magnetischer Antrieb und eine bessere magnetische Kopplung möglich ist. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Beseitigen von Prozessproblemen

Kleinere Fehlerrate bei Erstmustern

03.11.2014- ProduktberichtAufgrund der niedrigen Produktionsstückzahl der ersten Muster einer Baugruppe hat die Fertigungsstätte meist keine Zeit, Prozessprobleme zu beseitigen. Die Fehlerrate in der Produktion ist meist wesentlich höher als bei einem normalen Produktionsdurchlauf. Der Boundary-Scan-Test soll nun Abhilfe schaffen. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Kosten bei der Halbleiterprüfung senken

Automatisierte Testsysteme auf PXI-Basis

03.11.2014- FachartikelSemiconductor Test Systems, kurz STS, heißen die PXI-basierten automatisierten Testsysteme von National Instruments. Sie weisen eine offene, plattformbasierte Architektur auf und kombinieren modulare Messtechnik und Systemdesignsoftware für den HF- und Mixed-Signal-Produktionstest. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-VIP-Plattform aus einer Hand

Vollautomatisierte Testsysteme

03.11.2014- ProduktberichtDrei vollautomatisierte Testsysteme geben einen umfassenden Überblick über die VIP-Plattform von Seica. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Leiterplatten-Beschichtungen analysieren und beurteilen

Phosphorgehalt verdeckter NiP-Schichten bestimmen

02.11.2014- FachartikelBeschichtungen auf Leiterplatten sind oft durch einen Schichtaufbau (von oben) Au/Pd/NiP/Cu charakterisiert. Die Gold- und Palladiumschichten sollen die Oxidation der Nickelphosphor-Schicht verhindern, während diese NiP-Schicht für eine optimale Löt- und Bondbarkeit der Leiterplatte sorgt. Dies ist aber nur bei bestimmten Phosphorgehalten in der NiP-Schicht gegeben. Diesen Anteil gilt es zu kontrollieren. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Frisierte Produkte

Neue LXI- und PXI-Schaltlösungen

02.11.2014- ProduktberichtPickering Interfaces stellt auf der Messe seine neuen Produkte aus der Linie PXI vor. Außerdem zeigt das Unternehmen die Testapplikation eines Automotive-Steuergerätes, das aus der Zusammenarbeit mit Opal-RT Technologies entstanden ist. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Test von mobilen WLAN-Hotspots

Ungestörtes Funken

02.11.2014- FachartikelWenn beispielsweise Passagiere von Fernbussen während ihrer Reise über WLAN verfügen können, sind dafür Wireless-Internet-Access-LTE-Module verantwortlich. Auch in Fahrzeugen der Luxusklasse sorgt ein solcher WLAN-Hotspot für stabile Verbindungen ins weltweite Netz. Ein Hersteller solcher Module beauftragte MCD Elektronik mit der Entwicklung einer kompletten Testlinie für die Produktion. mehr...

Branchenmeldungen-Eingeweiht

Neue Fertigungsstätte in Stambino

01.11.2014- NewsSeica hat die neue Fertigungsabteilung Seica Custom Manufacturing gegründet und offiziell eingeweiht. Damit will das Unternehmen kundenspezifische Produkte implementieren. Die Produkte sind Nebenprodukte und / oder komplementär zu den Testern für elektronische Baugruppen, dem Kerngeschäft der Firma. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Funktionstest mit integriertem Kontakt- und Kurzschlusstest

Praxisnahe Zusatzfunktionen

01.11.2014- FachartikelMit dem Funktionstest wird die Funktionsweise bestückter Leiterplatten und Systeme getestet. Dies kann zwischen einzelnen Produktionsschritten oder aber als Test am Ende des Herstellungsprozesses erfolgen. Praxisorientierte Lösungen im Funktionstest werden somit immer wichtiger, beispielsweise die Integration von Kontakt- und Kurzschlusstest, wie sie sonst nur in In-Circuit-Testsystemen üblich sind. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Schaltstifte für den Stecker- und Kabelbaumtest

Positionsbestimmung à la Carte

01.11.2014- FachartikelKontaktstifte stellen die elektrische Verbindung zwischen Testobjekt und Testsystem her. Sei es im Leiterplatten- oder auch im Kabelbaumtest: Es gilt die Anwesenheit eines Bauteiles oder Stecker-Elementes inklusive deren Länge zu prüfen. Wichtig dabei ist es, eine effektive und wirtschaftliche Lösung zu finden, die einerseits auf die Platzverhältnisse und andererseits auf die Anforderungen an die Messgenauigkeit abgestimmt ist. mehr...

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