Bauteilchips

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Bauteilchips".
automatische optische Inspektion als Bestandteil eines Wafertests
Baugruppenfertigung-100prozentige Kontrolle mit AOI

Integration einer AOI für Wafertests

22.11.2019- FachartikelEine automatische optische Inspektion ist zentraler Bestandteil eines vollumfänglichen Wafertests. Eine 100prozentige Kontrolle aller Chips auf einem Wafer kann nur vollautomatisch erfolgen und ist besonders im kostensensitiven Automotive-Bereich unumgänglich. mehr...

Großtester im Testlabor in Bensheim.
Baugruppenfertigung-Test- und Analysedienstleistungen für jeden Anwendungsfall

Fehlerquellen schonungslos aufdecken

23.05.2019- FachartikelEin einziges qualitativ schlechtes Bauteil oder eine schlechte Lötverbindung kann die Funktion und die Qualität eines gesamten Gerätes gefährden. Deshalb ist es zur Qualitätssicherung unerlässlich, durch präzise, vielfältige und spezifische Test- und Analyseverfahren alle relevanten Eigenschaften genau und umfassend zu untersuchen. Kontinuierliche fertigungsbegleitende Tests können mögliche Fehlerquellen schonungslos aufdecken. mehr...

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