Embedded Test

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Embedded Test".
Bild 2: Das Embedded Diagnostic System.
Simulation + Verifizierung-Embedded-Diagnostic-System

Testmöglichkeiten mit Mikrocontrollern

05.09.2018- FachartikelEinerseits wird es bei modernen Schaltungen schwieriger, den gewünschten Zugriff auf entsprechende Signale oder Pins sicherzustellen. Andererseits steigt aufgrund zunehmender Schaltungs-Komplexität der Bedarf an zuverlässigen Testmethoden. Da auch die verwendeten Bauteile einen immer größeren Funktionsumfang aufweisen, liegt es nahe, diese selbst für Testzwecke zu nutzen. mehr...

Tessy zeigt für die Testobjekte die jeweilige zyklomatische Komplexität an.
Software-Entwicklung-Dynamisches Test-Werkzeug mit statischen Analyse-Funktionen

Software-Komplexität begrenzen

13.02.2018- FachartikelStandards zur Entwicklung sicherheitskritischer Software wie IEC 61508 oder ISO 26262 fordern oft die Begrenzung der Softwarekomplexität. In Version V4.1 von Tessy, einem Werkzeug zum dynamischen Modul-/Unit-Test von eingebetteter Software, ist nun erstmals eine originäre statische Analyse enthalten. mehr...

Entwicklungstests
Software-Entwicklung-Neue Testplattformen

Verbesserte Entwicklungstests für Embedded IoT-Anwendungen

13.11.2017- ProduktberichtParasoft, Anbieter von automatisierten Software-Testlösungen, bringt zwei neue Produkte: Parasoft C/C++Test, eine Software zur statischen Analyse und für Modultests in C und C++, und Parasoft DTP (Development Testing Platform), eine Reporting- und Analyseplattform, die Einblicke in den SDLC (Software Development LifeCycle) bietet. mehr...

Die Kombination der Testtechnologien eignet sich  für die Produktion komplexer elektrischer Baugruppen.
Testgeräte + Prüfplätze-Reduzierte Testzeiten für hochvolumige Produktionen

Integriert in die In-Circuit-Plattform

24.07.2017- FachartikelIm Rahmen der SMT Hybrid Packaging stellte Göpel Electronics drei Neuigkeiten vor. Besonders hervorgehoben wurde dabei die Integration der Embedded JTAG-Solutions in den In-Circuit-Tester von Teradyne, wodurch sich die Testzeiten für hochvolumige Produktionen reduzieren lassen. mehr...

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