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In-Circuit-Tester

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "In-Circuit-Tester".
ATEcare expandiert seit 15 Jahren sukzessive: Im Bild ist das neue Bürogebäude in Aichach zu sehen.
Testgeräte + Prüfplätze-Jubiläum: 15 Jahre ATEcare

Erfolgreich mit Service- und Supportlösungen für Inspektionssysteme

03.07.2018- NewsATEcare feiert im Juni 2018 sein 15-jähriges Bestehen. Aus den zarten Anfängen im Jahr 2003 als Unternehmen für Service und Support für bestehendes Equipment im ICT- und FKT-Bereich, entwickelte sich rasant ein Testhaus für applikative Aufgaben. mehr...

742pr0518_Seica_Compact Digital-Next-17
Baugruppenfertigung-Kürzere Testzeiten und weniger Abfall

Kompakte, automatisierte Testsysteme

29.05.2018- ProduktberichtDie Compact Line von Seica ist für die schlanke Fertigung ausgelegt. Schwerpunkt bilden die Randbedingungen in der Produktion von Leiterplatten-Baugruppen. So entsprechen die Compact ICT-Tester dem neuen Standard World Class Manufacturing (WCM). mehr...

Digitaltest
Baugruppenfertigung-Durchsatz erhöhen, Handlingzeiten reduzieren

Mit Nutzentester effizienter produzieren

20.03.2018- ProduktberichtModerne Elektronikfertigungen kämpfen mit immer höher werdenden Anforderungen. Der Nutzentest bietet eine gute Möglichkeit, den Durchsatz in einer Fertigung zu erhöhen und Handlingzeiten zu reduzieren, da mehrere Baugruppen im Multi-Panel produziert, getestet und bewegt werden können. mehr...

Adaptererstellungscenter AAE-CNC 500 Reinhardt System- und Messelectronic
Baugruppenfertigung-In einer halben Stunde zum Bohrprogramm

Erstellungscenter für Nadelbettadapter

17.10.2017- ProduktberichtMit der jüngsten Generation des Adaptererstellungscenters AAE-CNC 500 von Reinhardt können Kunden innerhalb eines halben Tages ohne Programmier- und spezielle Mechanikkenntnisse eine Nadelbett/Schublade mit gefederten Kontaktstiften für den Incircuit-Test elektronischer Baugruppen erstellen. mehr...

Die Kombination der Testtechnologien eignet sich  für die Produktion komplexer elektrischer Baugruppen.
Testgeräte + Prüfplätze-Reduzierte Testzeiten für hochvolumige Produktionen

Integriert in die In-Circuit-Plattform

24.07.2017- FachartikelIm Rahmen der SMT Hybrid Packaging stellte Göpel Electronics drei Neuigkeiten vor. Besonders hervorgehoben wurde dabei die Integration der Embedded JTAG-Solutions in den In-Circuit-Tester von Teradyne, wodurch sich die Testzeiten für hochvolumige Produktionen reduzieren lassen. mehr...

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