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In-Circuit-Tester

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "In-Circuit-Tester".
Dank des Spindelgetriebes lässt sich der Testkopf des Easy-Test-Handler ETH nun um 25 Prozent schneller bewegen.
Baugruppenfertigung-Easy-Test-Handler ETH um 25 Prozent schneller

In-Circuit- und Funktionstest

04.12.2018- ProduktberichtIPTE Factory Automation hat den Easy-Test-Handler ETH durch den Einsatz eines leistungsfähigeren Spindelgetriebes noch schneller gemacht. Der Testkopf lässt sich in der neuen Ausführung nun um 25 Prozent schneller bewegen. Diese Funktion verkürzt die Handlingszeit entsprechend deutlich. mehr...

ATEcare expandiert seit 15 Jahren sukzessive: Im Bild ist das neue Bürogebäude in Aichach zu sehen.
Testgeräte + Prüfplätze-Jubiläum: 15 Jahre ATEcare

Erfolgreich mit Service- und Supportlösungen für Inspektionssysteme

03.07.2018- NewsATEcare feiert im Juni 2018 sein 15-jähriges Bestehen. Aus den zarten Anfängen im Jahr 2003 als Unternehmen für Service und Support für bestehendes Equipment im ICT- und FKT-Bereich, entwickelte sich rasant ein Testhaus für applikative Aufgaben. mehr...

742pr0518_Seica_Compact Digital-Next-17
Baugruppenfertigung-Kürzere Testzeiten und weniger Abfall

Kompakte, automatisierte Testsysteme

29.05.2018- ProduktberichtDie Compact Line von Seica ist für die schlanke Fertigung ausgelegt. Schwerpunkt bilden die Randbedingungen in der Produktion von Leiterplatten-Baugruppen. So entsprechen die Compact ICT-Tester dem neuen Standard World Class Manufacturing (WCM). mehr...

Digitaltest
Baugruppenfertigung-Durchsatz erhöhen, Handlingzeiten reduzieren

Mit Nutzentester effizienter produzieren

20.03.2018- ProduktberichtModerne Elektronikfertigungen kämpfen mit immer höher werdenden Anforderungen. Der Nutzentest bietet eine gute Möglichkeit, den Durchsatz in einer Fertigung zu erhöhen und Handlingzeiten zu reduzieren, da mehrere Baugruppen im Multi-Panel produziert, getestet und bewegt werden können. mehr...

Adaptererstellungscenter AAE-CNC 500 Reinhardt System- und Messelectronic
Baugruppenfertigung-In einer halben Stunde zum Bohrprogramm

Erstellungscenter für Nadelbettadapter

17.10.2017- ProduktberichtMit der jüngsten Generation des Adaptererstellungscenters AAE-CNC 500 von Reinhardt können Kunden innerhalb eines halben Tages ohne Programmier- und spezielle Mechanikkenntnisse eine Nadelbett/Schublade mit gefederten Kontaktstiften für den Incircuit-Test elektronischer Baugruppen erstellen. mehr...

Die Kombination der Testtechnologien eignet sich  für die Produktion komplexer elektrischer Baugruppen.
Testgeräte + Prüfplätze-Reduzierte Testzeiten für hochvolumige Produktionen

Integriert in die In-Circuit-Plattform

24.07.2017- FachartikelIm Rahmen der SMT Hybrid Packaging stellte Göpel Electronics drei Neuigkeiten vor. Besonders hervorgehoben wurde dabei die Integration der Embedded JTAG-Solutions in den In-Circuit-Tester von Teradyne, wodurch sich die Testzeiten für hochvolumige Produktionen reduzieren lassen. mehr...

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