SCAN-Test

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "SCAN-Test".
Boundary Scan
Elektronik-CAD/CAE/EDA-DFT-Assistant für optimale Implementierung von Boundary Scan

EDA-Plug-in hilft beim Design-for-Test

13.09.2019- FachartikelDurch die Berücksichtigung von Design-for-Test (DFT) beim Erstentwurf kann die anschließende Überprüfung der bestückten Leiterplatten auf Fehler schneller und effektiver erfolgen. mehr...

Das kompakte, luftgekühlte System ist für kostengünstiges Testen in Forschung und Entwicklung sowie in der High-Mix-Low-Volume Bauteilefertigung optimiert.
Testgeräte + Prüfplätze-Kompakt und luftgekühlt für die One-Stop-Testabdeckung

Tester von System-in-Package-Bauteilen (SiP)

21.02.2017- ProduktberichtAdvantest Corporation, München, stellt sein neues T2000 AIR System vor. Das kompakte, luftgekühlte System ist für kostengünstiges Testen in Forschung und Entwicklung sowie in der High-Mix-Low-Volume Bauteilefertigung optimiert. Durch seine modulare Architektur sichert es eine maximale Flexibilität und es können bis zu sechs diskrete luftgekühlte Messmodule konfiguriert werden. mehr...

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