Test

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Test".
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Testgeräte + Prüfplätze-Surface insulation resistance testing system

Minimized channel-to-channel leakage

28.09.2015- ProduktberichtThe Auto-SIR 2 testing system of of Gen 3 Systems (Stannol) measures changes in surface insulation resistance. It represents a dramatic improvement over existing SIR test alternatives, and its shielded precision electronics allows accuracy resistance measurements to be made up to 1014 Ω. mehr...

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Automotive-HF-Testsystem zum Prüfen von Multifunktionsantennen

Gezielter Wellensalat

25.09.2015- FachartikelWellenlängen von etlichen hundert Metern bis herunter zu Zentimetern, ständige Bewegung und zahlreiche Störsignale: Das ist sozusagen die Jobbeschreibung einer Multifunktionsantenne in modernen Fahrzeugen, meist oberhalb der Heckscheibe auf dem Fahrzeugdach montiert. MCD Elektronik hat innerhalb weniger Monate ein universelles Testsystem entwickelt, das den enormen Funktions- und Frequenzumfang dieser Dachantennen abdeckt und zudem noch schnell ist. mehr...

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Optische Größen-Testsystem für bestückte LED-Leiterplatten

Hundertprozentige LED-Prüfung im Inlineprozess

24.09.2015- ProduktberichtMit dem Laservision LED stellt Prüftechnik Schneider & Koch ein Testystem vor, mit dem sich LED-Baugruppen in der Fertigungslinie im Serientakt zu 100 Prozent prüfen lassen. Es umfasst sowohl die AOI- als auch die komplette elektrische Prüfung sowie aus der Kombination resultierend die optischen Messgrößen der betriebenen LEDs. mehr...

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Leiterplattenfertigung-Combines bed of nail testers with traditional flying probers

Flying prober for shared use

24.09.2015- ProduktberichtDue to the increased parameters of automated testing, Seica has introduced the first flying prober for panels: Pilot4D FX. This flying prober combines the best distinctive features like the throughput of the bed of nail testers, with the flexibility and innovation of the traditional flying probers. mehr...

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Labormesstechnik-Partnerschaft

Livingston liefert Messgeräte von Viavi Solutions für den Telekommunikationsmarkt

14.09.2015- NewsViavi Solutions (früher: JDSU) wählt den Test-/Messgeräte-Beschaffungsspezialist Livingston als Vertriebspartner: Damit sind neben Leihgeräten künftig auch Neuanschaffungen über Livingston möglich. mehr...

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Elektrische Größen-Streben nach dem Unmöglichen

Null Fehler in der Leiterplattenherstellung

15.07.2015- FachartikelNull Fehler bedeutet, niemals ein fehlerhaftes Produkt an einen Kunden zu liefern. Leiterplattenhersteller unternehmen alles, um dieses Ziel zu erreichen – wohlwissend, dass sie 100 Prozent nicht erreichen können. JTAG Technologies hat ein Testgerät entwickelt, mit dem sich das Risiko sogenannter Slips (die Auslieferung defekter Leiterplattenbaugruppen) weiter reduziert. mehr...

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Elektrische Größen-Signalschaltmatrix

Kompakte Reed-Relais-Matrix für Prüfaufbauten

29.06.2015- ProduktberichtPickering Interfaces stellt im Rahmen seiner Signalschalt- und Konditionierungslösungen eine modifizierte Version seiner PXI-Reed-Relais-Matrix vor. Die kompakte Karte hat eine verbesserte Schaltleistung, bietet einen Onboard-Selbsttest und ist über eBRIST extern diagnosefähig. mehr...

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Software-Entwicklung-Neue Version

Testwerkzeug Tessy nun mit statischer Quellcode-Analyse

11.06.2015- ProduktberichtTessy, das Werkzeug zum automatisierten Unit-/Modul-Test von eingebetteter Software, beherrscht in Version 3.2 erstmals auch statische Analyse. Neu sind auch die Report-Formate Word und HTML. Zudem enthält die neue Version viele Ergänzungen und Verbesserungen für die tägliche Arbeit. mehr...

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Software-Entwicklung-Entwicklungshelfer

40 % der Projekte von Embedded-Entwicklern sind verspätet

11.06.2015- NewsModerne Embedded-Designs nutzen viel Fremdcode, um den gewünschten Funktionsumfang zu implementieren, ohne die Entwicklungszeit noch mehr zu verlängern. Obwohl damit die Sicherheitsherausforderungen steigen, ist mit 20 % mehr Fremdcode zu rechnen, für den der Entwickler keinen Quellcode erhält. mehr...

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Branchenmeldungen-Intelligente Mobilität

NXP Semiconductors richtet mit Nanyang Technological University Testgelände ein

03.06.2015- NewsNXP Semiconductors hat zusammen mit der Nanyang Technological University (NTU) in Singapur ein Testgelände für smarte Mobilität auf dem Campus eingerichtet. mehr...

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Sensor-ICs-Sensorik im Wandel

Plattformbasiert für sich schnell ändernde Technologien

08.05.2015- FachartikelDie bisherige Auffassung, dass Sensoren nur Temperatur, Spannung, Kraft und andere grundlegende Daten messen, ist überholt. Heutzutage sehen Ingenieure und Wissenschaftler Sensoren als Komponenten, die zusätzlich zu diesen Messungen RF-Signale, Grafiken, Audio- und Videosignale liefern. Testabteilungen werden mit der Herausforderung konfrontiert, komplette Testsysteme für diese komplexen Geräte zu entwickeln. mehr...

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Software-Entwicklung-Test- und Debug-Umgebung

UDE 4.4.3 von PLS für Zynq-7000-SoC-Familie von Xilinx

05.05.2015- ProduktberichtEine optimierte Test- und Debug-Umgebung speziell für die SoC-Familie Zynq-7000 von Xilinx präsentiert PLS Programmierbare Logik & Systeme mit der Version 4.4.3 ihrer Universal Debug Engine (UDE). mehr...

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Modulare Messtechnik-JTAG/Boundary-Scan-Plattform Scanflex

I/O-Modul erweitert Testbarkeit von Baugruppen

24.04.2015- ProduktberichtGöpel Electronic ergänzt mit dem SFX-5296LX die Produktpalette der JTAG/Boundary-Scan-Plattform Scanflex um ein Mixed-Signal-I/O-Modul der nächsten Generation. Es bietet eine leistungsfähige Lösung zur Erweiterung des Boundary-Scan-Verfahrens auch auf scanunfähige Partitionen. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-ATS-UKMFT-627: ICT- und Funktionstester

Schuhkarton mit Spitzentechnik

06.03.2015- FachartikelDer ATS-627 vereint In-Circuit-Test (ICT), Boundary-Scan, Flashen und Funktionstest von bestückten Platinen in einem Gerät, das so groß ist wie ein Schuhkarton. Der Blick ins Innere zeigt wie dieser kombinierte Funktionsumfang auf kleinstem Raum möglich ist. mehr...

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Leiterplattenfertigung-Software für Leiterplattenfertigung

PCB und System-Level-Fehlfunktionen ausmerzen

28.01.2015- ProduktberichtAster Technologies hat die als NFF (No Failur Found) bezeichneten Fehler mit der Software Quad-DPMO und mit tw-Express adressiert. Damit lassen sich Qualitätsdaten durch den Hersteller sorgfältig auslesen und Teststrategien optimieren. mehr...

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Automotive-Mess- und Kalibrier-Protokoll

Zweite Auflage des XCP-Fachbuchs

17.12.2014- ProduktberichtIn der zweiten, erweiterten Auflage des Buchs „XCP – Das Standardprotokoll für die Steuergeräte-Entwicklung“ haben die Autoren auch CAN FD als Transportschicht berücksichtigt. Vector Informatik verschickt das Fachbuch kostenlos. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Spendiert von Würth

Gewinnen Sie eine von fünf Testpinzetten

09.12.2014- GewinnspielElektronik industrie bietet seinen Lesern fünf Testpinzetten gespendet von Würth im Wert von zusammen 250 Euro. mehr...

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Software-Entwicklung-Boundary-Scan-Test

Ein Verfahren im Überblick

28.10.2014- Application NoteWie kam es zu JTAG/Boundary-Scan, wo liegen die Vorteile und wo geht die Reise hin? Antworten auf diese Fragen gibt dieses Whitepaper. mehr...

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Evaluation Kits-Software

Integration: Lab-Windows / CVI und Tessy

21.10.2014- ProduktberichtTessy-Version V3.1.9 unterstützt erstmals Lab-Windows / CVI (ab Version 2013) von National Instruments. mehr...

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Oszilloskope-Mit Trigger- und Dekodieroption für R&S-RTO-Oszilloskope

MIPI-RFFE-Schnittstellen komfortabel und schnell analysiere

02.10.2014- ProduktberichtSmartphones nutzen zur Steuerung des HF-Frontends den von der MIPI-Allianz standardisierten seriellen RFFE-Bus. Mit der Option R&S -TO-K40 für die High-Performance-Oszilloskope R&S-RTO adressiert Rohde & Schwarz den Bedarf nach schneller Analyse und Test von MIPI-RFFE-Schnittstellen. Besonderes Feature ist die automatische Glitch-Unterdrückung. mehr...

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