Wafertest

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Wafertest".
Probe Station
Testgeräte + Prüfplätze-Mechanischer Aufbau des gesamten Messaufbaus

Hochfrequenz-Probing: Teil 2

13.05.2020- FachartikelIn Teil 1, erschienen in elektronik industrie 9-2019, wurden Messtechnik-Probes und -Verbindungselemente für den Hochfrequenz- und Mikrowellenbereich dargestellt. Dieser Teil beschreibt die Basis für einen mechanischen Aufbau des gesamten Messaufbaus, insbesondere die Kontaktier- beziehungsweise Prüfstationen (Probe Stations). mehr...

automatische optische Inspektion als Bestandteil eines Wafertests
Baugruppenfertigung-100prozentige Kontrolle mit AOI

Integration einer AOI für Wafertests

22.11.2019- FachartikelEine automatische optische Inspektion ist zentraler Bestandteil eines vollumfänglichen Wafertests. Eine 100prozentige Kontrolle aller Chips auf einem Wafer kann nur vollautomatisch erfolgen und ist besonders im kostensensitiven Automotive-Bereich unumgänglich. mehr...

Bild 1: Typischer Aufbau eines Messplatzes zur Charakterisierung von Halbleiter-Produkten auf der Wafer-Ebene von Keysight Technologies und Cascade Microtech.
Testgeräte + Prüfplätze-On-Wafer-Messungen

Schlüsselfertige Messplätze – schnell aufgebaut, konfiguriert und betriebsbereit

18.07.2016- FachartikelDie Entwicklungszyklen in der Halbleitertechnik werden zunehmend kürzer und die Anforderungen an die Messgenauigkeit in der Produktentwicklung und Produktionskontrolle steigen. Der zeitliche Aufwand zum Aufbau und zur Konfiguration eines entsprechenden Mess-Systems ist daher ein wesentlicher Faktor für die Time-to-Market neuer Chip-Produkte. Keysight Technologies und Cascade Microtech haben dafür gemeinsam eine verhältnismäßig schnelle Lösung entwickelt. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze

Hohe Parallelfähigkeit beim Wafertest

24.04.2002- FachartikelUnter dem Markenzeichen ViProbe stellt Feinmetall vertikale Prüfkarten mit hoher Parallelfähigkeit her. Dadurch werden beim Test von Halbleitern erhebliche Zeiteinsparungen erzielt. Diese Prüfkarte wird besonders beim Test von Memory- und Smart Card-Halbleitern zur Anwendung. Konstruktion und Aufbau dieser vertikalen Familie von Prüfkarten sorgen für hoher Zuverlässigkeit im Testbetrieb. mehr...

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