Funktionale Tests und Bauteileprogrammierung (CPLD, EEPROM, Flash etc.) lassen sich in den Boundary-Scan-Test einbinden und beschleunigen so die Fertigung und Prüfung von Baugruppen. Mit Hilfe von JET (JTAG Embedded Test) können DDR-Speicher bei voller Geschwindigkeit sowie komplexe Schnittstellen wie CAN, USB, Ethernet in Echtzeit geprüft werden.

Productronic April 2018 1zu2

A.R. Bayer DSP Systeme

Die aktuelle Version 8.5 enthält eine intuitive Benutzerführung, die laut Herstellerangaben die Erstellung von Testplänen in kürzester Zeit ermöglicht. Bei der Ausführung der Testpläne werden Fehler detailliert, optional auch grafisch dargestellt, um eine sichere Nachbearbeitung zu ermöglichen. Eine umfangreiche Bauteilbibliothek unterstützt eine Vielzahl von Komponenten, darunter Xilinx Zynq, Altera Cyclone V SoC, Freescale QorIQ P2, Nvidia Tegra K1, Texas Instruments OMAP und Infineon Aurix. Die Suite ist in zahlreiche ICT-Systeme integrierbar, u.a. solche von Keysight, Teradyne, CheckSum, Seica, Digitaltest und National Instruments. Ein kostengünstiges Komplettpaket (Test Genie) enthält die wesentlichen Komponenten und beinhaltet die Erstellung eines Testplans durch die Ingenieure des Herstellers. Kundenseitig reduziert sich damit die Einarbeitung auf die korrekte Ausführung des erstellten Tests. Kostenlose eintägige Seminare bieten einen umfassenden Einblick in die Funktionsweise und Einsatzmöglichkeiten.