Vertikalprüfkarte bietet viele Vorteile
Die Anforderungen an Prüfkarten im Frontend-Test von Halbleitern auf Waferebene steigen kontinuierlich. Die Kontakt- oder sogenannten Pad-Flächen auf dem Chip werden stets kleiner. Gleichzeitig steigt der Wunsch, Testzeiten zu reduzieren und damit Kosten zu sparen. Die herkömmliche Epoxy-Technologie hat ihre Grenzen in diesem Segment längst erreicht. Prüfkarten in Vertikaltechnologie erobern den Markt.
