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So arbeitet das Testsystem im Full-Floating-Verfahren praktisch unabhängig vom Systemrauschen und erlaubt dadurch exakte In-Circuit-Prüfungen auch in Low-Voltage-Designs mit niedrigen Messspannungen von 10 mV bzw. Messströmen von 10 mA. Das System liefert auch in Mikrohenry- und Milliohm-Bereichen exakte und sauber reproduzierbare Ergebnisse bei hoher Messauflösung. Die Bandbreite möglicher Z1-Konfigurationen erstreckt sich vom einfachen MDA über In-Circuit-Tester bis zum ausgefeilten Combi- und Clustertester (ICT plus Funktion).

electronica 2014, Halle A1, Stand 236