National Instruments hat mit der PXI Semiconductor Suite die PXI-Plattform speziell um Funktionen zum softwaredefinierten Test von Mixed-Signal-Halbleitern erweitert. Sie ist für den Einsatz mit LabVIEW optimiert und umfasst vier schnelle Digital-I/O-Module (HSDIO), zwei Schaltmodule für digitale Signale, zwei erweiterte 6,6-GHz-HF-Vektorsignalgeneratoren/ -analysatoren, eine Präzisions-SMU (Source Measure Unit) sowie von der Firma Test Systems Strategies die Software TD-Scan for NI-Software.

Die Suite integriert zahlreiche Funktionen, u. a. Digital-I/O-Operationen mit 200 MHz, eine Stromauflösung von 10 pA, schnelle Mehrband-HF-Messungen, automatisierte Schaltvorgänge zwischen DC und digitalen Systemen sowie die Möglichkeit, Daten aus Dateien der Formate Waveform Generation Language (WGL) und IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) zu importieren.

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