Zeitgleich
Die automatische optische Inspektion von bestückten Leiterplatten gehört mittlerweile zum internationalen Standart im Fertigungsprozess. Die steigende Verarbeitungsanzahl von Miniaturgehäusen wie 1005, 0201, 0402 und komplexen Gehäusen wie BGA und CSP verlangt eine Fehlererkennung welche verdeckte Fehler kosteneffektiv erkennt. Hier kommen die Stärken eines AOI/AXI-Systems, auch Hybridinspektionssystem genannt, zum Zuge: Eine leistungsstarke Röntgenprüfung mit gleichzeitiger optischer Inspektion ohne Verfahren der Leiterkarte.
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