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Teilnehmer vor der Viscom-Zentrale in Hannover.
Uwe Schulze, Zollner Elektronik AG, referierte über die kombinierte Inspektion.
Teilnehmer des Technologie-Forums 2011.
Volker Pape, Vorstand für Vertrieb, internationales Geschäft und Unternehmensentwicklung, überraschte die Gäste mit einem spontanen Auftritt an der Gitarre zusammen mit der Band Jes Jazz.

Wie gewohnt lief am ersten Tag der zweitägigen Veranstaltung das Viscom-Anwendertreffen mit einem umfangreichen Angebot an kostenlosen Workshops. Viscom-Anwender konnten sich hier aus erster Hand und ganz praxisnah über Systemfeatures und Neuerungen informieren. Am Nachmittag startete das Programm im Forum mit vielen interessanten Vorträgen.

Ein Teilnehmer hat das so zusammengefasst: „Ich komme jedes Jahr nach Hannover. So erfahre ich direkt von den Neuerungen bei Viscom, bekomme aber auch interessante Tipps zur Systembedienung. Dieser Austausch ist viel wert und erleichtert mir die Arbeit zuhause erheblich.“

Die Vorträge

Einen Blick über den Tellerrand ermöglichte der Auftaktvortrag im Forum am Nachmittag. Hier gewährte Prof. Dr. Franz Walter vom Institut für Demokratieforschung in Göttingen einen amüsanten Einblick in die aktuelle Forschung zu Parteienlandschaft und Wählerverhalten in Deutschland.

Uwe Schulze von der Zollner Elektronik AG machte mit seinem Vortrag den Auftakt zum Themenschwerpunkt Elektronikfertigung. Aufschlussreich beschrieb er die Inspektionsstrategie im Unternehmen. Er erläuterte die steigenden Prüfanforderungen im Laufe der Jahre und die damit einhergehende Entwicklung der Inspektionsstrategie. Nutzen und Grenzen der unterschiedlichen Prüfansätze wurden so deutlich. Zum Abschluss schilderte er das aktuelle Prüfkonzept bei Zollner und zeigte anschaulich Flexibilität und Nutzen der kombinierten AOI/AXI-Inspektion für die Testabdeckung in der Fertigung (vgl. productronic 4-2011, S. 67).

Auch der Vortrag von Lars Wallin, IPC Europe, blieb dem Thema treu, allerdings auf einer eher übergeordneten Ebene: Er erläuterte den Einsatz der IPC-Richtlinien zur Erhöhung der Qualität bestückter Leiterplatten.

Den Abschlussvortrag des ersten Tages übernahmen, wie immer in den letzten Jahren, die Bereichsleiter der Viscom AG, um über die aktuelle Roadmap in ihren Bereichen zu informieren. Mit dabei waren Peter Krippner, Bereichsleiter SP, Eberhard Hasler, Bereichsleiter XP, Rolf Demitz, Bereichsleiter NP und Henning Obloch, Bereichsleiter Service der Viscom AG.

Ganz im Zeichen der aktuellen Erkenntnisse im Bereich der Bestückungstechnologie stand der zweite Tag der Veranstaltung. Prof. Dr. Mathias Nowottnick vom Institut für Gerätesysteme und Schaltungstechnik der Universität Rostock untersuchte die Zuverlässigkeit von Lötverbindungen. In seinem Vortrag ging er auf typische Schädigungsmechanismen ein und erläuterte die Hauptausfallursachen von Lötverbindungen. Als Haupteinflussgröße konnte er thermo-mechanische Ermüdung ausmachen. Interessante Erkenntnis darüber hinaus: die Miniaturisierung erhöht die Zuverlässigkeit.

Den ersten Anwendervortrag des Tages hielt Helmut Steiner von der Frequentis AG. Unter dem Titel „20 Jahre MOI – 2 Jahre AOI“ erläuterte er in seinem Erfahrungsbericht den Einsatz eines AOI-Systems anhand vieler Beispiele. Er zeigte die Verbesserung der Prüfabdeckung und ging auch ausführlich auf konkrete Fragestellungen in der Systembetreuung ein.

Die Drahtbond-Verbindungstechnik stand im Mittelpunkt des Vortrags von Rolf Demitz, Viscom AG. Er ging auf geeignete Inspektionslösungen in diesem Bereich ein.

Dr. Heinz Wohlrabe, Universität Dresden, konzentrierte sich auf das Thema „Einflussgrößen von Voids bei QFNs“. In seinem Vortrag bezog er sich auf die Ergebnisse des AK Poren, der mit namhaften Unternehmen eingehend die grundlegenden Mechanismen der Porenbildung in Praxistests untersucht hat. Mit einleuchtenden Beispielen zeigte er Einflussgrößen und Wechselwirkungen bei der Entstehung von Poren.

Die Vorführungen

Am Nachmittag gab es Gelegenheit, Vorführungen der Viscom-Inspektionssysteme im Demoraum zu verfolgen, die schwerpunktmäßig an drei Stationen durchgeführt wurden.

  • An Station 1 wurde die AOI mit der S3088 flex gezeigt und hier natürlich auch die aktuelle vVision-Software präsentiert.
  • An Station 2 wurde die kombinierte AOI/AXI-Prüfung X7056 demonstriert und
  • Station 3 zeigte die S3088 mit der neuen 3D-SPI im Praxiseinsatz.

Zum Abschluss der Veranstaltung hatten die Besucher noch die Gelegenheit sich über Produktionstechniken für Mikrobauteile zu informieren. Dazu war Prof. Dr. Lutz Rissing vom Institut für Mikroproduktionstechnik der Universität Hannover eingeladen. Sehr anschaulich zeigte er die unterschiedlichen Fertigungsmöglichkeiten in diesem zukunftsweisenden Bereich.

Fazit

Insgesamt war die Veranstaltung für alle ein großer Erfolg. Volker Pape: „Die vielen positiven Rückmeldungen, die wir dieses Jahr wieder bekommen haben, zeigen, dass die Veranstaltung sehr gut ankommt. Unsere Kunden fühlen sich gut betreut. Auch die neuen Interessenten können einen guten Einblick gewinnen in unser Unternehmen und die Produktpalette, die wir anbieten. Das äußerst positive Echo freut uns natürlich und bestärkt uns darin, dieses Veranstaltungsprogramm auch weiterhin fortzuführen.“