Bereits schnell nach der Vorstellung der ersten Incircuit- und Funktions-Testsysteme im Jahr 1979 mussten Maßnahmen ergriffen werden, um ein unerlaubtes bewusstes oder auch unbewusstes Ändern/Manipulieren von Prüfprogrammen zu unterbinden. In den 80er und 90er Jahren hat ein Schlüsselschalter das Ändern/Editieren von Prüfprogrammen durch Unbefugte noch verhindert. Nur wer den Schlüssel hatte, konnte das Prüfprogramm ändern und abspeichern. Reinhardt System- und Messelectronic entwickelt und produziert automatische Incircuit- und Funktionstestsysteme, die bei den Kunden in der Elektronikentwicklung zunehmend auch entwicklungsbegleitend eingesetzt werden. So war es die Intention des Unternehmens, eine Incircuit- und Funktions-Testsystem-Software zu entwickeln, die es einem Elektroniker mit Reparaturerfahrung ermöglicht, ein Prüfprogramm zu erstellen und keine Programmiersprachen voraussetzt. Das hätte aber den Nachteil, dass das Prüfprogramm auch von unbedarften Anwendern leicht geändert werden kann. Die neue R.U.M. Anwender-Verwaltung ermöglicht es nun viele Anwender anzulegen, mit Vorname, Name und auch einer Anwendungsidentität. Zudem werden beim Anlegen der Anwender natürlich auch eindeutige Kennworte vergeben. Danach können verschiedenste Gruppen angelegt werden, wie Entwickler, Tester, Servicepersonal usw. sowie welche Berechtigung welcher Bediener hat. So darf ein Entwickler beispielsweise ein Testprogramm laden und ausführen, Testsystemeinstellungen ändern, die Anwenderverwaltung darf er aber nicht ausführen, das darf etwa nur der Administrator. Es ist ihm auch erlaubt, ein Prüfprogramm zu erstellen oder nachträglich zu ändern und vieles mehr. Der Tester hat in den meisten Fällen nur die Berechtigung, den Testablauf zu starten und zu beenden.

Das neue Bohrcenter AAE-CNC 500 mit Prüfadapter.

Das neue Bohrcenter AAE-CNC 500 mit Prüfadapter. Reinhardt

Kapazität im Prüffeld erhöhen

Da kleine und mittelständische Firmen immer wieder teils unerwartet mit steigenden Stückzahlen ihrer elektronischen Flachbaugruppe konfrontiert werden, wird der Prüfplatz mit Incircuit- und Funktionstest mit IC-Flashen und Boundary Scan oft zum Flaschenhals. Als Maßnahme werden oft Kapazitätserhöhung durch zusätzliche Schichten, ein zweiter Prüfplatz mit einem weiteren Testsystem, eine weitere Adaption oder die Möglichkeit, eventuell im Mehrfachnutzen zu testen, in Erwägung gezogen. Dafür wird eine komplett neue Adaption benötigt und das Testsystem muss entsprechend erweitert werden. Darüber hinaus besteht die Gefahr, dass beim Nutzentrennen ein geprüfter Prüfling nach dem Prüfen beschädigt wird, was von manchen Auftraggebern mit sehr hohen Qualitätsansprüchen nicht erwünscht ist. Zunächst muss analysiert werden, wie sich die Durchlaufzeit auf Handling- und Prüfzeit verteilt, um aus den gewonnenen Zahlen ein eventuell vorhandenes Einsparpotenzial erkennen zu können.

Kombination macht es

Ein reiner Incircuittest (MDA) stellt sicher, dass sich jedes Bauteil mit dem richtigen Wert in der richtigen Richtung am richtigen Platz befindet und dass keine Lötkurzschlüsse und keine Unterbrechungen vorliegen. Die Wahrscheinlichkeit, dass die Baugruppe funktionssicher ist, ist dadurch sehr hoch. Bei einem erfolgreichen Funktionstest können dagegen durchaus noch Bestückungsfehler vorliegen, die früher oder später zu sporadischen oder zu Totalausfällen führen können. Die Kombination aus Incircuit- und Funktionstest bietet daher die höchstmögliche Sicherheit für die sichere Prüfung eines elektronischen Gerätes oder einer Baugruppe.

Die Handlingzeit an einem manuellen Prüfplatz (Adaptionsvorrichtung mit manueller Bedienung) liegt meist zwischen 5 und 8 Sekunden, bei einem manuellen/pneumatischen Prüfplatz sind es typischerweise 6 bis 9 Sekunden. Diese Zeit lässt sich durch einen Wechseladapter, auch Tandemadapter genannt, komplett einsparen, vorausgesetzt, die reine Prüfzeit ist länger als die Handlingzeit. Beim Tandem- oder Doppeladapter, das sind zwei identische Prüfadapter für den Incircuit- und Funktionstest an einem Testsystem, kann auf einem Adapter im kontaktierten Zustand beispielsweise ein Incircuit-Funktionstest durchgeführt werden, während beim zweiten Adapter ein neuer Prüfling eingelegt wird. Ist der Test beendet und ein neuer Prüfling bereits eingelegt, wird ohne Unterbrechung umgeschaltet und automatisch weitergetestet. Mit der neuen T-Box kann ein Programmer in der T-Box verwendet werden, der dann auch für andere Projekte verwendet wird. Eine weitere Möglichkeit, die Durchlaufzeit /Taktzeit zu senken ist der Paralleltest, bei dem zwei Testsysteme parallel an die Rückseite der T-Box angedockt werden und zwei Adapter Typ 127 an die Front. Eine weitere Variante wäre, einen doppelt so großen Prüfadapter vom Typ 42A oder 82 anzudocken und dann mehrere, eingelegten Einzelbaugruppen parallel zu testen.

Programmerstellung auf ein Minimum reduziert

Das neue Incircuit- und Funktionstest-System ATS-SMFT 780 ist der Nachfolger des ATS-SMFT 680. Es basiert auf dem 2016 vorgestellten ATS-MFT 770 und ist bereits im Grundausbau in 2 Kartenträgern mit reichlichen Modulen bestückt. In den 19″-Schrank ist eine Arbeitsplatte integriert, auf der die Adaptionsvorrichtung, standardmäßig Adapter Typ 62L, angedockt werden kann. In diesem Schrank befindet sich in der Grundausstattung auch der Steuerrechner. Herz des Testsystems ist die umfangreiche Software zur schnellen Testprogrammerstellung mit ihrer intuitiven Bedienung. Zur Grundausstattung gehört das CAD-Daten-Importtool RUDC, das die Zeit für die Incircuit-Test-Programmerstellung auf ein Minimum reduziert. Die bauteilgenaue grafische Fehlerortdarstellung ist selbstverständlich, ebenso automatische Programmgeneratoren (APG) für Incircuit- und Funktionstest. Zur Grundausstattung gehören neben dem Flashen von ICs auch der Referenztest und das Adaptionsmanagement. Ebenfalls Standard ist die Statistiksoftware mit der Möglichkeit, Testergebnisse aufzuzeichnen, Prüflingsdaten statistisch auszuwerten mit Gaußscher Verteilung, Prozessfähigkeit nach Cp, Cpk und vielem mehr. Das User Management (RUM-B) Modul sorgt dafür, dass die Benutzer des Testsystems ausschließlich die Arbeiten erledigen können, die sie ausführen dürfen. Der Grundausbau umfasst ein Incircuit- und Funktionsmess-System mit über 80 Messarten, darunter Kontaktierungstest, Kurzschluss- und Unterbrechungstest, Lötfehlertest, Bauteiltest, Spitzenspannungsmessung, Zeit- und Frequenzmessung, Laufzeiten, Ereigniszählung, Frequenzmessung und Transientenrecorder.

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