Parallele Tests an mehreren Leiterplattenbaugruppen für extrem hohe Stückzahlen

Bei massiv-parallele Leiterplatten-Testsystemen handelt es sich um eine neue Kategorie von automatisierten Testgeräten, die für die parallele Durchführung von Tests an mehreren Leiterplattenbaugruppen entwickelt wurden. So wird ein hoher Volumendurchsatz erreicht, was die Markteinführung beschleunigt und die Testkosten reduziert.

Aktuelle Systeme auf dem Markt unterstützen nur bis zu vier Kerne parallel. Kunden müssen mehrere Systeme testen und kaufen, um die Produktionsanforderungen zu erfüllen. Dadurch entstehen Skalierungs- und Infrastrukturkosten, ein größerer Platzbedarf und zusätzlicher Arbeitsaufwand für Support und Wartung.

Das neue Testsystem unterstützt bis zu 20 Kerne parallel mit PXI-basierten In-Circuit-Testmöglichkeiten. Dadurch ist die Kernkonfiguration variabel und nicht auf eine feste Anzahl von Reihen beschränkt, was die gesamten Computerkosten reduziert. Die Integration von Messgeräten mit der Keysight OpenTAP-Software innerhalb derselben Plattform ermöglicht effiziente Funktionstestmessungen und PXI-Unterstützung für Messgeräte von Keysight und anderen Herstellern. Je nach Bedarf und mit erweiterbaren Messgeräten und Steckkarten können Anwender die Betriebsmittel einfach skalieren.

(pg)