Elektronik-Fertigung

15. Mai. 2015 | 15:05 Uhr | von Dr. Achim Leitner

Prozessfehler entdecken

Podiumsdiskussion zu 3D-AOI auf der SMT Hybrid Packaging 2015

Immer kleinere Baugruppen, mehr verdeckte Lötverbindungen und höhere Bestückdichte: Um die Testabdeckung der Baugruppe zu verbessern, bietet sich die Vermessung der dritten Dimension an. So mancher Elektronikfertiger fragt sich, ob 3D-AOI tatsächlich die logische Konsequenz ist. Die Productronic widmete sich auf der Messe SMT Hybrid Packaging 2015 diesem komplexen Thema mit einer hochkarätigen Podiumsdiskussion.

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(Bild: Hüthig)

Dr. Achim Leitner

Chefredakteur all-electronics

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