Göpel electronic, Hersteller von JTAG/Boundary Scan Lösungen gemäß IEEE1149.x, und IPextreme, Lieferant von hochwertigen IP (Intellectual Property) für System-On-Chip (Soc) Designer weltweit, haben im Rahmen einer längerfristigen Kooperation neue Instrumentierungen für den erst kürzlich verabschiedeten Debug- und Test-Standard IEEE-1149.7 verifiziert. Dabei wurde im Ergebnis eine vollständige Kompatibilität zwischen der JTAG/Boundary Scan Hardwareplattform Scanflex von Göpel electronic und dem IEEE-1149.7 cJTAG Halbleiter-IP von IPextreme geschaffen.
„Wir sehen in IEEE-1149.7 einen der strategisch wichtigsten Test- und Debug-Standards der Zukunft und dank der hervorragenden Zusammenarbeit mit IPextreme als Lieferant des Referenz-IP waren wir in der Lage, die entsprechende Unterstützung in unsere Scanflex-Plattform zügig und effektiv zu implementieren“, erklärt Thomas Wenzel, Geschäftsführer der JTAG/Boundary Scan Division bei Göpel electronic. „Perspektivisch wollen wir in Partnerschaft mit IPextreme aber nicht nur die Kompatibilität von IP und Instrumenten-Hardware gewährleisten, sondern auch den industriellen Einsatz von IEEE1149.7 als Zugriffs-Interface für embedded Test und Debugging der nächsten Generation vorantreiben.“
Hinweis der elektronik industrie Redaktion: IEEE-1149.7 ist nach aktuellem Stand für die IEEE-Arbeitsgruppe P1687 (Embedded Instruments) die favorisierte Methode, um auf in Chips integrierte Messmöglichkeiten zugreifen zu können. Wir werden in unserer Ausgabe 11-2010 u.a. darüber berichten, was sich z.B. hinter den Chip-internen Schnittstellen Fire&Forget, Read-at-Will und Applied-Sequence verbirgt.(jj)
