Mit diesem Auswertemodul können Voids unabhängig von vorhandenen Durchkontaktierungen auf einer Leiterplatte detektiert und die Ergebnisse benutzerfreundlich dargestellt werden. Damit entfällt die zeitaufwendige und wenig genaue visuelle Einzelanalyse des Boards. Nach der automatischen Selektion brauchen nur noch die Grenzfälle visuell beurteilt werden. Dieses Verfahren bietet sich zudem besonders für häufig wiederkehrende Untersuchungen bei großen Stückzahlen an.

Rood Microtec ist gut mit Equipment und Personal speziell für größere Reihenuntersuchungen mit Röntgen-, Rasterelektronen- und Akustikmikroskopie ausgestattet.

 

(hb)