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In-Circuit-Tester oder MDA?

Der In-Circuit-Test ist eine Testmethode zur Prüfung von analog-digital bestückten elektronischen Flachbaugruppen, um Fertigungsfehler und Bauteildefekte zu erkennen. Der Begriff MDA (Manufacturing Defect Ana-lyser) ist in den frühen 80er Jahren entstanden und ist weitgehend iden-tisch mit dem ICT. Nur der ICT behält sich vor, auch digitale ICs mit dem Backdriving-Verfahren prüfen zu können. Doch das scheint nun auch Historie zu werden