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Mikromesszellen für die Qualitätssicherung in Steckverbindern

Elektronisches Versagen aufgrund der Kontaktierung von Steckverbindern ist ein verbreitetes Problem, das es auszuschalten gilt. Wie sich bei der Fehlersuche hochauflösende und präzise Mikromesszellen auch bei Mehrpunktmessungen in schwer zugänglichen Umgebungen vorteilhaft einsetzen lassen, erklärt Nyatec.