Die Oszilloskope der Wave-Master-8000HD-Plattform ermöglichen eine schichtenübergreifende Analyse und stellen Debugging-Funktionen in Kombination mit einem Paket zur Analyse serieller Daten für PCIe- und USB-C-Tests zur Verfügung. (Bild: Teledyne Lecroy)
Die Modelle haben eine Auflösung von 12 Bit, was eine Signalcharakterisierung von mehrstufigen PAM3- und PAM4-Signalen ermöglicht, die in der USB4-Spezifikation v2.0 bzw. PCIe 6.0 verwendet werden. Die Abtastrate liegt bei 320 GS/s (Gigasample/s), der Erfassungsspeicher von 8 Gigapunkten (Gpts) verbessert die Fehlersuche bei Problemen mit dem Link-Negotiaion. Die Oszilloskope behalten die Validierungs- und Debug-Fähigkeiten ihrer Vorgänger bei und verfügen zusätzlich über Software-Optionen für die Analyse serieller Daten (SDA Expert) zum Testen der nächsten Generation serieller Datentechnologien.
Funktionen zur Unterstützung der Fehlersuche bei Embedded Systemen
Darüber hinaus sind eine Reihe von Funktionen verfügbar, um die Anforderungen an das Debugging komplexer Verbindungen und Hochgeschwindigkeits-Embedded-Systeme zu erfüllen. Anwender können die Funktionen der Modelle nahtlos mit einem PCIe- oder USB-Protokollanalysator mit Cross-Layer-Analysis Cross-Sync-PHY kombinieren, um einen Einblick in das Verhalten von Hochgeschwindigkeitsverbindungen zu erhalten. Serielle Low-Speed-Seitenbanddate, Trainings- und Negotiation-Links, Stromschienen und andere zugehörige Signale können mit nahezu allen vom Messtechnik-Hersteller angebotenen 50-Ω- oder 1-MΩ-gekoppelten-Tastköpfen (einschließlich passiver Tastköpfe und Stromtastköpfe) erfasst werden. Es stehen mehr als 20 serielle Low-Speed-Trigger und Decoder zur Verfügung, was die Durchführung von Low-Speed- und High-Speed-Debugging mit demselben Oszilloskop erleichtert. Weiter können Anwender digitale Signale mit den digitalen Logikeingängen (Mixed-Signal) mit einer Taktrate von bis zu 500 MHz erfassen. Optional verwenden sie den Hochgeschwindigkeits-Digital-Analysator HDA125, der Signale bis zu 6 GBit/s erfassen kann, was besonders nützlich ist, für die Erfassung und Dekodierung von DDR-Speicher Signalen und die Read/Write Trennung, die bei DDR-Debugging und Konformitätstests benötigt wird.
Integriertes Fachwissen über serielle Daten für Charakterisierung und Konformität
Die SDA Expert Software-Optionen stellen vereinfachtes Fachwissen mit maßgeschneiderten Technologieanalysen für PCIe, USB, DisplayPort und mehr bereit, sowie PAM- und NRZ-Augendiagramm-, Jitter- und Link-Analyse-Tools. Die QualiPHY-Testpakete ermöglichen eine einfache Automatisierung von Konformitätstests für komplexe serielle Hochgeschwindigkeits-Datenschnittstellen.
