Obsoleszenz bei Halbleitern entgegenwirken

Obsoleszenz-Management ist zwar heute Standard, doch ein Aspekt, der oft übersehen wird, ist das Testen von Halbleitern und insbesondere DRAMs. Gerade bei langen Produktlebenszyklen, wie in der Luftfahrt, sind 50 Jahre und mehr keine Seltenheit. Allerdings können Speicherchips nicht immer so lange gelagert werden. Daher versorgen sich Hersteller mit Wafern oder mit vorgefertigten Dies und produzieren die Chips erst, wenn sie benötigt werden. Ist die Technologie schon etwas älter, kann es sein, dass man die Komponenten nach dem Packaging nicht mehr testen kann. Oft sind die Testgeräte nicht mehr verfügbar oder wurden auf neuere Technologien umgestellt.

Drum prüfe, wer sich länger bindet

Das Testen ist einer der teuersten und kompliziertesten Schritte in der Herstellung von Speicher-Chips. Aufgrund der Größe, Komplexität und Kosten der Ausrüstung können es sich nur wenige Unternehmen leisten, eigene Geräte vorzuhalten und müssen auf Tests der Speicherhersteller oder von Dienstleistern vertrauen. Doch bei Industrieanwendungen sprengt das oft den Rahmen, weil einer fünfstelligen Stückzahl schnell Kosten in sechsstelliger Höhe gegenüberstehen.

Hier setzt der Rhinoe Tester von Neumonda Technology an. Dieses Testboard wurde speziell für anwendungs- und systemspezifische Tests von DRAM-Komponenten und -Modulen entwickelt. Mit den Abmessungen von 40x60cm ist er wesentlich kleiner, leichter und damit günstiger als herkömmliche Tester. DRAMs werden heute vielen verschiedenen Umgebungen eingesetzt. Der Tester simuliert die spezifische Umgebung und zeigt so auf, wie gut sich ein DRAM in der Zielanwendung schlagen wird. Das ist primär bei der Qualifizierung wichtig. Doch da Anschaffungs- und Betriebskosten um einiges günstiger sind, sind auch langfristige Tests möglich, um fehlerhafte Komponenten auszusortieren. Und weil für die Testumgebung keine proprietären Informationen zu den Testverfahren der Wafer-Lieferanten nötig sind, können DRAMs auch noch getestet werden, wenn die Wafer schon lange nicht mehr hergestellt werden.

Vertrauen ist gut, eigene Tests sind besser

Der Tester hat einen weiteren Vorteil. In Zeiten von Allokationen kaufen Hersteller manchmal Komponenten aus zweifelhaften Quellen, um einen Stillstand der Produktion zu vermeiden. In solchen Fällen können die erworbenen DRAMs getestet werden, um sicher zu gehen, dass sie auch tatsächlich den gewünschten Qualitätsanforderungen entsprechen.
Auch wenn es beim Obsoleszenz-Management in erster Linie um die Beschaffung geht, ist die Testfähigkeit von Halbleitern mindestens genauso wichtig. Sonst sind die Komponenten so nützlich wie eine Kassette ohne Kassettendeck.