Tag: abex

In-Circuit-Test + Funktionstest = Mehr Test

Manufacturing Defect Analyzers bieten sich aufgrund eines niedrigeren Preises in manchen Anwendungsfällen als Alternative zu monolithischen Board-Testern an. Eine angepasste Kombination zwischen In-Circuit-Test und Funktionstest kann die Mauern zwischen diesen Testverfahren niederreißen.