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RF & Microwave Test: What is the Optimum Strategy?

Three different approaches to designing RF microwave switching and signal distribution subsystems that provide platform flexibility. How to optimize your internal resources while ensuring fit-for-purpose and repeatability.

Pickering Interfaces Ltd.

11. November 2024

PXI-basierte Halbleitertestsysteme

Die Entwicklung neuer Testlösungen stellt für Halbleiter-Testingenieure eine ständige Herausforderung dar. Dank des breiten Angebots an Software-Werkzeugen, der intuitiven Software-Entwicklungs- und Test-Executive-Umgebung sowie der offenen PXI-Architektur sind PXI-Plattformen für die Entwicklung kosteneffizienter Hochleistungs-ATE-Plattformen prädestiniert.

Mike Dewey

28. Oktober 2015

Wirtschaftliche Qualitätssicherung

Marktübersicht In-Circuit-Tester

Zweifelsohne sollte jede elektronische Baugruppe getestet werden. Wie allerdings getestet wird und ob es wirtschaftlich sinnvoll ist, das ist in den meisten Fällen vom Produkt abhängig. Mit seiner Fehleraussage auf Bauteilebene liefert der In-Circuit-Test die notwendigen Informationen für eine moderne, wirtschaftliche Qualitätssicherung. In der exklusiven Productronic-Marktübersicht hat die Redaktion bei den wichtigsten ATE-Vertretern im deutschsprachigen Raum nachgefragt.

Marisa Robles Consée

5. November 2014

10 Jahre ATEcare

Als im Jahre 2003 die Elektronikproduktion heftig in der Krise steckte, wagte Olaf Römer mit ATEcare den Neuanfang. Dass reihenweise gut ausgebildete Mitarbeiter aus der ATE-Branche entlassen wurden, sah er als Chance zum Durchstarten: Mit Service- und Support-Dienstleistungen entdeckte das junge Team eine erfolgreiche Nische im heiß umkämpften ATE-Markt.

Marisa Robles Consée

24. Oktober 2013

11. ATE-Technologietag

Konrad Technologies und National Instruments veranstalteten in Radolfzell den 11. ATE-Technologietag. Unter dem Motto „Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich automatisierter Testsysteme“ fanden sich am 07. Mai 2013 etwa 100 Interessierte ein, um sich umfassend über Trends, Standards und COTS-Technologien zu informieren, die den Schlüssel zur Effizienzsteigerung im Bereich des automatisierten Tests darstellen.

Manfred Frank

5. September 2013

10. ATE Technologietag in Sindelfingen

Unter dem Thema „Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich Automatisierter Testsysteme“ hatten Konrad Technologies und National Instruments im Mai 2011 zum ATE-Technologietag, dieses mal in Sindelfingen, geladen – und viele Interessenten nutzten die Chance sich umfassend über Trends und Technologien sowie über konkrete Lösungen zu informieren.

Hilmar Beine

4. Juli 2011

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