Bestückte Baugruppen Jenseits von In-Circuit: Das ganze Spektrum des Testens Im Produktionstest von bestückten Leiterplatten kommt nach wie vor der In-Circuit-Test (ICT) zum Einsatz, um bestückte Baugruppen elektrisch zu testen. Da aber weitere Funktionen in die Baugruppen integriert werden, müssen die Testsysteme auch immer neue Testverfahren bieten, um die geforderte Prüftiefe zu leisten. Maren Witt 2. April 2020