Auf Basis modularer PXI-Testsysteme Test von HF-Zellen Um komplexe HF-Transceiver entwickeln zu können, muss jeder einzelne interne Schaltungsblock evaluiert und charakterisiert werden. Ein leider sehr oft stiefmütterlich behandelter Punkt beim Designprozess vollständig integrierter HF-Schaltkreise ist der HF-Test. Das im folgenden Artikel beschriebe Testkonzept auf Basis von PXI-Testsystemen bietet eine Vielzahl von Vorteilen, unter anderem reduzierte Entwicklungszeiten und Kosten. Die Messmöglichkeiten können durch Software-Erweiterungen individuell den Anforderungen der jeweiligen Messaufgabe angepasst werden. Björn Bieske, Klaus Heinrich 21. May 2012