Tag: iftest

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Elektronikentwicklung in der Schweiz 2026

Gedämpftes Wachstum, harter Kostendruck, steigende Komplexität: Die Elektronikentwicklung in der Schweiz steht vor einem Spagat zwischen Innovationsstärke, Effizienzzwang und globalem Technologiewettkampf.

Nicole Ahner

27. May 2026

Bestückungsfehler mittels AOI detektieren

Automatische Optische Inspektion (AOI) in 3D

Die Automatische Optische Inspektion (AOI) ist heute die bevorzugte Testmethode für die Qualitätskontrolle von SMT-bestückten elektronischen Flachbaugruppen. Das primäre Ziel ist eine 100% Kontrolle der bestückten Baugruppen durchzuführen. Dadurch wird sichergestellt, dass die geprüften Baugruppen exakt gefertigt und mögliche Fehler möglichst frühzeitig identifiziert und korrigiert werden.

Redaktion

8. October 2018