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Testmöglichkeiten an Integrierten Schaltkreisen

Bald 50 Jahre steht Rood Microtec im Dienste des Kunden: Die Testdienstleistungen reichen von Mixed-Signal-, analoge und digitale integrierte Schaltkreise für Wafer bis hin zu gehäusten Bauteilen. Nun legt das Unternehmen mit einem erweiterten Service nach und kann verbesserte Lösungen für Bauelemente mit besonders hoher Pinanzahl und Stückzahlen von deutlich mehr als 1 Mio. Bauteilen pro Jahr anbieten.