Zuverlässigkeit von Leiterplatten prüfen Mit IST statt Thermoschock schneller testen Wie lässt sich die strukturelle Integrität von Leiterplatten schneller und präziser nachweisen? Der Interconnect Stress Test (IST) liefert normgerechte Ergebnisse – mit deutlich verkürzten Testzeiten. Petra Gottwald 30. June 2025
Anwenderbeispiel aus dem Mittelstand So lässt sich Digitalisierung in der Produktion umsetzen Es ist eine Herausforderung, eine Produktion auf Industrie 4.0 umzustellen. Wie ein mittelständischer Hersteller von Leistungshalbleitern seine Digitalisierungsstrategie umsetzt, zeigt dieser Beitrag. Ludwig Pirkl, Maximilian Frank 25. March 2019