Tag: konrad technologies

Bestückungsfehler in der Baugruppenfertigung erkennen

Im automatischen Test von Elektronikbaugruppen zählt der klassische In-Circuit-Test nach wie vor zu den Standardverfahren. Häufig reicht der Einsatz analoger ICT-Systeme. Als zugrundeliegende Plattform bietet PXI eine leistungsstarke Plattform mit umfangreichen Möglichkeiten. Die verbesserte Leon-Testerplattform baut auf diesem Ansatz auf.

Matthias Vogel

3. November 2015

Embedded-PCB-Tester der dritten Generation

In-Circuit-Test + Funktionstest = Mehr Test

Manufacturing Defect Analyzers bieten sich aufgrund eines niedrigeren Preises in manchen Anwendungsfällen als Alternative zu monolithischen Board-Testern an. Eine angepasste Kombination zwischen In-Circuit-Test und Funktionstest kann die Mauern zwischen diesen Testverfahren niederreißen.

Matthias Vogel, Markus Siebenhaar

10. July 2013

Alles wächst zusammen

10. ATE Technologietag in Sindelfingen

Unter dem Thema „Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich Automatisierter Testsysteme“ hatten Konrad Technologies und National Instruments im Mai 2011 zum ATE-Technologietag, dieses mal in Sindelfingen, geladen – und viele Interessenten nutzten die Chance sich umfassend über Trends und Technologien sowie über konkrete Lösungen zu informieren.

Hilmar Beine

4. July 2011

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Bestückungsfehler in der Baugruppenfertigung erkennen

In-Circuit-Test + Funktionstest = Mehr Test

10. ATE Technologietag in Sindelfingen