Leon gen iii

Bestückungsfehler in der Baugruppenfertigung erkennen

Im automatischen Test von Elektronikbaugruppen zählt der klassische In-Circuit-Test nach wie vor zu den Standardverfahren. Häufig reicht der Einsatz analoger ICT-Systeme. Als zugrundeliegende Plattform bietet PXI eine leistungsstarke Plattform mit umfangreichen Möglichkeiten. Die verbesserte Leon-Testerplattform baut auf diesem Ansatz auf.