Tag: objective evidence

Nachweis ionischer Rückstände auf Leiterplatten durch SIR-Tests

In der aktuellen Revision H(09/2020) der amerikanischen Norm IPC J-STD-001, dem Basisstandard für Elektronikfertigungen, wurde festgelegt, dass die Sicherheit von ionischen Rückständen nun durch die sogenannte „Objective Evidence“ nachzuweisen ist. Was das bedeutet.