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Hochfrequenz-Probing: Teil 2

In Teil 1, erschienen in elektronik industrie 9-2019, wurden Messtechnik-Probes und -Verbindungselemente für den Hochfrequenz- und Mikrowellenbereich dargestellt. Dieser Teil beschreibt die Basis für einen mechanischen Aufbau des gesamten Messaufbaus, insbesondere die Kontaktier- beziehungsweise Prüfstationen (Probe Stations).