Diese Seite zeigt Artikel zu diesem Pxi

Pxi

Für den Systemtest von Großdieselmotoren kam die PXI-Plattform zum Einsatz.

Systemtest von Dieselmotoren-Steuergeräte

Temperatursimulation

Für den Systemtest seiner Großdieselmotoren suchte ein Unternehmen nach einer Lösung für die Temperatursimulation. Pickering Interfaces bietet ein Verfahren, um PT100- oder PT1000-Widerstandsthermometer (RTDs) mit hoher Genauigkeit zu simulieren.

Bob Stasonis

18. Mai 2018

Wie erfolgt der Übergang zu einer modularen Testplattform?

Mit PXI/AXIe lassen sich Platz und Geld beim Test sparen

In vielen Branchen gehen Hersteller bei ihren Testlösungen von Benchtop-Messgeräten auf modulare Lösungen über. Bei einigen ist die Entscheidung für die modulare Lösung zwingend, denn nur sie löst die Herausforderungen beim Test von mehrkanaligen Technologien, sie behält die Kosten und die Zeit bis zur Marktreife im Blick.

Jürgen Stemler

15. November 2017

Performance in dritter Generation

Bestückungsfehler in der Baugruppenfertigung erkennen

Im automatischen Test von Elektronikbaugruppen zählt der klassische In-Circuit-Test nach wie vor zu den Standardverfahren. Häufig reicht der Einsatz analoger ICT-Systeme. Als zugrundeliegende Plattform bietet PXI eine leistungsstarke Plattform mit umfangreichen Möglichkeiten. Die verbesserte Leon-Testerplattform baut auf diesem Ansatz auf.

Matthias Vogel

3. November 2015

Mehr Funktionalität und Leistung

PXI-basierte Halbleitertestsysteme

Die Entwicklung neuer Testlösungen stellt für Halbleiter-Testingenieure eine ständige Herausforderung dar. Dank des breiten Angebots an Software-Werkzeugen, der intuitiven Software-Entwicklungs- und Test-Executive-Umgebung sowie der offenen PXI-Architektur sind PXI-Plattformen für die Entwicklung kosteneffizienter Hochleistungs-ATE-Plattformen prädestiniert.

Mike Dewey

28. Oktober 2015

Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich automatisierter Testsysteme

11. ATE-Technologietag

Konrad Technologies und National Instruments veranstalteten in Radolfzell den 11. ATE-Technologietag. Unter dem Motto „Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich automatisierter Testsysteme“ fanden sich am 07. Mai 2013 etwa 100 Interessierte ein, um sich umfassend über Trends, Standards und COTS-Technologien zu informieren, die den Schlüssel zur Effizienzsteigerung im Bereich des automatisierten Tests darstellen.

Manfred Frank

5. September 2013

Hohen Leistungsdichte verringert Platzbedarf im Rack

Programmierbare PXI-Netzteile

National Instruments hat universelle, programmierbare Netzteile auf den Markt gebracht, die eine sehr hohe Leistungsdichte im PXI-Formfaktor bieten und die Grundlage von automatisierten Testsystemen bilden. Die Netzteil-Module PXIe-4112 und PXIe-4113 verfügen über zwei Ausgänge mit einer Leistung von 60 W in einem einzelnen PXI-Express-Steckplatz.

Hans Jaschinski

24. Juli 2013

Embedded-PCB-Tester der dritten Generation

In-Circuit-Test + Funktionstest = Mehr Test

Manufacturing Defect Analyzers bieten sich aufgrund eines niedrigeren Preises in manchen Anwendungsfällen als Alternative zu monolithischen Board-Testern an. Eine angepasste Kombination zwischen In-Circuit-Test und Funktionstest kann die Mauern zwischen diesen Testverfahren niederreißen.

Matthias Vogel, Markus Siebenhaar

10. Juli 2013

Auf Basis modularer PXI-Testsysteme

Test von HF-Zellen

Um komplexe HF-Transceiver entwickeln zu können, muss jeder einzelne interne Schaltungsblock evaluiert und charakterisiert werden. Ein leider sehr oft stiefmütterlich behandelter Punkt beim Designprozess vollständig integrierter HF-Schaltkreise ist der HF-Test. Das im folgenden Artikel beschriebe Testkonzept auf Basis von PXI-Testsystemen bietet eine Vielzahl von Vorteilen, unter anderem reduzierte Entwicklungszeiten und Kosten. Die Messmöglichkeiten können durch Software-Erweiterungen individuell den Anforderungen der jeweiligen Messaufgabe angepasst werden.

Björn Bieske, Klaus Heinrich

21. Mai 2012

Alles wächst zusammen

10. ATE Technologietag in Sindelfingen

Unter dem Thema „Trends, Herausforderungen und Lösungen im Bereich Automatisierter Testsysteme“ hatten Konrad Technologies und National Instruments im Mai 2011 zum ATE-Technologietag, dieses mal in Sindelfingen, geladen – und viele Interessenten nutzten die Chance sich umfassend über Trends und Technologien sowie über konkrete Lösungen zu informieren.

Hilmar Beine

4. Juli 2011

Leistungsstark für PXI Express und Real-Time

PXI-Embedded-Controller NI PXI-8106/ PXIe-8106

Diese Familie echtzeitfähiger Embedded-Controller für PXI, PXI Express und PXI RT basiert auf Intel Core 2 Duo T7400 mit 2,16 GHz.

Redaktion

26. März 2007