Tag: schichtdickenmessung

Fischerscope-X-Ray XDL-BBaureihe

Die Fischerscope-X-Ray XDL-B-Baureihe ist für die zerstörungsfreie Schichtdickenmessung und Materialanalyse bei galvanischen Beschichtungen auf Massenteilen, aber auch für die Analyse funktioneller Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie und die Badanalyse in der Galvanik geeignet.