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Sir-test

Nachweis ionischer Rückstände auf Leiterplatten durch SIR-Tests

In der aktuellen Revision H(09/2020) der amerikanischen Norm IPC J-STD-001, dem Basisstandard für Elektronikfertigungen, wurde festgelegt, dass die Sicherheit von ionischen Rückständen nun durch die sogenannte „Objective Evidence“ nachzuweisen ist. Was das bedeutet.

Petra Gottwald

21. Februar 2023

Halbleiter-Bauteile aus dem Hochspannungsbereich testen

Sichere Strommessung in SIR-Tests bei hohen Spannungen

Die steigende Verbreitung von Hochspannungsanwendungen erfordert die Durchführung von SIR-Test Messungen unter hohen Spannungen. Die Entwicklung eines Messstandes für bis zu 1.500 V anliegender Spannung wurde im Rahmen einer Bachelorthesis umgesetzt.

Petra Gottwald

18. Mai 2021