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Nachweis ionischer Rückstände auf Leiterplatten durch SIR-Tests

In der aktuellen Revision H(09/2020) der amerikanischen Norm IPC J-STD-001, dem Basisstandard für Elektronikfertigungen, wurde festgelegt, dass die Sicherheit von ionischen Rückständen nun durch die sogenannte „Objective Evidence“ nachzuweisen ist. Was das bedeutet.

Petra Gottwald

21. February 2023

Sichere Strommessung in SIR-Tests bei hohen Spannungen

Die steigende Verbreitung von Hochspannungsanwendungen erfordert die Durchführung von SIR-Test Messungen unter hohen Spannungen. Die Entwicklung eines Messstandes für bis zu 1.500 V anliegender Spannung wurde im Rahmen einer Bachelorthesis umgesetzt.

Petra Gottwald

18. May 2021