Fraunhofer IPMS beschleunigt Testprozess

Ein neu entwickelter Messadapter des Fraunhofer IPMS ermöglicht erstmals die gleichzeitige Kontaktierung von bis zu acht Interdigitalelektrodenpaaren. Dafür sorgt ein Chip auf Basis von Interdigitalelektroden, mit dem sich empfindliche und neuartige Materialien deutlich effizienter analysieren lassen. Dazu zählen unter anderem Materialien für organische Leuchtdioden (OLEDs), organische Solarzellen, organische Feldeffekttransistoren (OFET) sowie metalloxidbasierende Gassensoren. Das vereinfacht den Testprozess und verkürzt Entwicklungszeiten.

Welche Materialien erforscht die Elektronik – und welche nicht?

Die Entwicklung funktionaler Materialien ist zentral für die Elektronikindustrie. Doch zwischen Grundlagenforschung und industrieller Umsetzung verlaufen komplexe Prozesse – nicht jede Innovation erreicht die Fertigungslinie oder die Serienreife.

Materialforscher können mit den maßgeschneiderten Chips zentrale Kenngrößen wie Leitfähigkeit, Feldeffekt, Kontaktwiderstand und Ladungsträgerbeweglichkeit präzise messen und optimieren. Um diese Leistungsfähigkeit gezielt an unterschiedliche Anwendungen anzupassen, arbeitete das Fraunhofer IPMS in den vergangenen Jahren eng mit Partnern und Auftraggebern zusammen. Die Chips wurden kontinuierlich weiterentwickelt, etwa durch neue Elektrodengeometrien, unterschiedliche Elektrodenmaterialien sowie Anpassungen von Gateoxidmaterial und -dicke. Bislang stellte insbesondere die einfache und parallele Kontaktierung mehrerer Elektroden eine Herausforderung dar. Der neue Messadapter ermöglicht jetzt die parallele Kontaktierung mehrerer Interdigitalelektrodenpaare und schließt damit diese Lücke.

Eine Auswahl der Interdigitalelektroden-Chips sowie der neue Messadapter stellt das Institut auf der Analytica 2026 (24. - 27. März, München) vor.