Übersteuerter MOSFET mit Avalanche-Durchbruch (links) und MOSFET-Normalbetrieb (rechts). (Bild: Inifieon)
Der Lawinen- oder Avalanche-Effekt ist bei MOSFETs ein kritisches und schlecht kontrollierbares Durchschaltverhalten, welches den Halbleiter aufgrund hoher Strom- und Temperaturimpulse schnell zerstören kann. Entwickler vermeiden diesen Betriebszustand außerhalb der Spezifikation mit Schutzmaßnahmen, und auch MOSFET-Hersteller sind um eine Zero-Avalanche-Toleranz bemüht.
Weil sich dieses Grenzphänomen jedoch nicht ignorieren lässt, sind einige detaillierte Kenntnisse um den Avalanche-Effekt wertvoll. Infineon vermittelt in einem Applikationspapier die theretischen Grundlagen und geht auf gängige auf gängige Avalanche-Prüfverfahren per Simulation und Testschaltung ein und erläutert Unterschiede zwischen Einzel- und Mehrfach-Avalanche-Pulsen.
(jwa)