Flying Probe- und In-Circuit-Tester: Vergleich und Einsatzbereiche

Ein Flying Probe Tester ist ein flexibles Prüfwerkzeug, das ohne spezielle Vorrichtungen auskommt. Er nutzt bewegliche Prüfspitzen, um gezielt Kontaktpunkte auf einer Leiterplatte (PCB) zu messen. Er misst die elektrischen Eigenschaften von Bauteilen und prüft sie auf Kurzschlüsse, Unterbrechungen oder falsche Bauteilwerte.

Vorteile des Flying Probe Testers:

• Kostenersparnis: Da keine speziellen Testvorrichtungen benötigt werden, eignet sich der Flying Probe Tester ideal für Prototypen sowie kleine bis mittlere Produktionsvolumen.
• Hohe Flexibilität: Er kann sich leicht an verschiedene PCB-Designs anpassen und ist besonders geeignet für komplexe oder dicht bestückte Leiterplatten.
• Kurze Einrichtungszeit: Testprogramme lassen sich schnell generieren und bei Designänderungen unkompliziert aktualisieren, was die Produktionszeit verkürzt.
• Niedrigere Betriebskosten: Durch den Verzicht auf teure Vorrichtungen sinken die Entwicklungs- und Betriebskosten erheblich.

Definition In-Circuit-Tester

In-Circuit-Tester (ICT) verwenden eine kundenspezifische Testvorrichtung, die auch als „Nagelbett“ bezeichnet wird, um mit den Testpunkten auf der Leiterplatte Kontakt herzustellen. In-Circuit-Tester eignen sich im Allgemeinen eher für mittlere bis große Produktionen.

Vorteile des In-Circuit Testers:

• Individuelle Testvorrichtungen: Maßgeschneiderte Testvorrichtungen sorgen für eine präzise Kontaktierung.
• Hohe Geschwindigkeit: ICT-Systeme können viele Testpunkte gleichzeitig abdecken, was sie für hohe Produktionsvolumen besonders effizient macht.
• Einsatz für hohe Stückzahlen: ICT wird oft in der Massenfertigung verwendet, wo schnelle und wiederholbare Tests entscheidend sind.

Welches System passt zu wem?

Die Entscheidung zwischen Flying Probe und In-Circuit Tester hängt von verschiedenen Faktoren ab, wie Produktionsvolumen, Leiterplattenkomplexität und Kosten.

Vergleich der beiden Testverfahren:

• Entwicklungskosten: ICT erfordert teure Vorrichtungen, was bei kleinen Stückzahlen oder Prototypen unwirtschaftlich sein kann. Flying Probe Tester bieten hier eine kosteneffizientere Lösung.
• Flexibilität: Flying Probe Tester sind anpassungsfähig und ideal für häufige Designänderungen. ICT-Systeme benötigen dagegen zeitaufwendige Updates an den Vorrichtungen.
• Produktionsvolumen: Für große Stückzahlen ist ICT effizienter, während Flying Probe Tester besser für Prototypen oder kleine Serien geeignet sind.
• Leiterplattenkomplexität: Flying Probe Tester können problemlos mit unterschiedlichen Layouts und dichter Bestückung umgehen, was sie für komplexe Designs prädestiniert.

Ob Flying Probe oder In-Circuit Tester – die Wahl hängt von den spezifischen Anforderungen ab. Während Flying Probe Tester Flexibilität und Kostenersparnis bieten, punkten ICT-Systeme mit Geschwindigkeit und Effizienz bei hohen Produktionsvolumen. Viele Prüfgerätehersteller bieten sowohl Flying-Probe- als auch In-Circuit-Test-Lösungen an.

Effiziente Tests mit neuen Oszilloskop-Modulen

Mit der Integration automatisierter Oszilloskope erweitert das FLS980Dxi Flying Probe Testsystem von Acculogic die Möglichkeiten von Flying-Probe-Systemen. Die Innovation verspricht kürzere Prüfzeiten und höchste Präzision. Die neuen Oszilloskop-Module automatisieren Signalmessungen, was eine schnellere und genauere Analyse komplexer Leiterplatten ermöglicht. Manuelles Probing wird überflüssig, wodurch Testzeiten erheblich reduziert werden.

Das neue Oszilloskop-Tastkopfmodul kombiniert hohe Bandbreite, großen Dynamikbereich und kompakte Bauweise. Bis zu acht Single-Ended-Tastköpfe können gleichzeitig angeschlossen werden, um parallele Messungen zu ermöglichen. Die Integration erweitert die Testmöglichkeiten durch die Erkennung von Signalrauschen, intermittierenden Fehlern und Transienten. Dies ist besonders bei analogen und hochfrequenten Schaltungen ein entscheidender Vorteil.

Die modulare Bauweise des FLS980Dxi erlaubt eine flexible Anpassung an spezifische Anforderungen. Prüfköpfe lassen sich für besondere Layouts oder dicht gepackte Komponenten individuell konfigurieren.

Flying-Probe-System auf Apex 2025 vorgestellt

Takaya hat auf der Apex 2025 das Flying-Probe-Testsystem APT-2400F/APT-2600FD vorgestellt. Das System wurde speziell für die präzise Inspektion hochdichter Leiterplatten entwickelt. Laut Unternehmensangaben ermöglicht es eine zuverlässige Erkennung sämtlicher Defekte mit beeindruckender Geschwindigkeit. Das System nutzt einen besonderen Steuerungs- und Sensormechanismus, um auch unter variierenden Umweltbedingungen konsistente Prüfergebnisse zu liefern. Dies minimiert Rückrufrisiken und verbessert die Produktqualität nachhaltig. Die intuitive Bedienoberfläche erleichtert den Einsatz, senkt die Arbeitsbelastung und steigert die Produktivität, insbesondere in Fertigungen mit begrenztem Personal.

Multifunktionstestsysteme für Inline-Tests

Bei Reinhardt-Testsysteme hat sich seit ein paar Jahren die Familie der ATS-UKMFT 2 In-Circuit- und Funktionstestsysteme durchgesetzt. Da mittlerweile über 50 % der Reinhardt-Testsysteme im Inline-Test eingesetzt werden, ist dieses Multifunktionstestsystem auf die stetig zunehmenden Automatisierungsprozesse ausgerichtet und wurde für Lean Production designed. Es zeichnet sich durch eine kompakte Bauweise von nur 235 mm Breite, geringen Energieverbrauch und vollständige Kalibrierfähigkeit aus. Diese Eigenschaften sind ideal für automatisierte Fertigungsprozesse und platzsparende Produktionsumgebungen. Das ATS-UKMFT 727 bietet umfassende Möglichkeiten für den Multifunktionstest. Es unterstützt Prüfungen von Steuerungs- und Auswertelektroniken sowie das ISP Parallel Flashen von ICs (auch 100 Stück und mehr, z. B. bei Mehrfachnutzen Sensorik), selbst bei hohen Stückzahlen oder Mehrfachnutzentests.

Die ATS-OS-Software ermöglicht eine intuitive Erstellung von Testprogrammen, inklusive automatischer Generierung für In-Circuit- und Funktionstests. Mit Modulen wie ATSSTAT für Dokumentation und Analyse oder einem MES-Interface wird eine nahtlose Integration in bestehende Systeme ermöglicht.

Das RPSC-Funktionsmodul minimiert Handlingzeiten und sorgt für eine präzise Fehlerlokalisierung bei Mehrfachnutzentests. Es reduziert Initialisierungsphasen und Einschwingzeiten, wodurch auch High-Volume-Tests wirtschaftlich und effizient durchgeführt werden können.

Für hohe Durchsätze kann das RST40-Modul ergänzt werden. Es ermöglicht echte Parallel- oder Zehnfachtests, wodurch die Effizienz in Produktionslinien nochmals gesteigert wird.